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 LSIテストサービス


近年は高性能並びに多機能なLSIが多く開発されており、それに伴いLSIテスト開発には豊富な経験・知識と高い技術力が必要となりました。
我々アダプトIPは長年培ってきたLSIテスト技術により、ボード設計を含むLSIテストアプリケーション開発、異なるテスタ間のコンバージョン、テストコスト削減等、LSIテスト全般のソリューションをご提供いたします。

各種テスタでの豊富な開発実績

テストプログラム開発


テスト仕様作成を含むテストプログラム/テストパターンの新規開発を行います。
テストタイムのオプティマイズやマルチサイト化等により、テストコスト削減を考慮したテストアプリケーションをご提供いたします。

【主な実績】

TVチューナー向けLSI,GPS向けLSI,メニーコアプロセッサ,各種ADC/DAC,各種高速I/F等様々なLSIに対応いたします。

【対応テスタ】

ADVANTEST全般(特にV93000)、 TERADYNE J750/IP750、LTX-Credence等様々なテスタに対応いたします。
プローブカード設計製造 / パフォーマンスボード設計製造も対応いたします。

テスタ間プログラム変換


多様なLSIテスタの機種変更に伴うプログラム/パターンを変換するサービスです。
テスタ新機種導入やOSAT対応のため現状と異なるテスタを使用する必要が生じた場合など、変換前後の相関確認から量産立ち上げまで様々なお客様のニーズにお応えいたします。

各種テスタでの豊富な変換実績

記載以外の機種の場合でもお気軽にご相談ください。

LSI故障解析サービス(FIB)


LSI故障解析にはTATが短い事、確実に原因が解明出来る事が求められています。
我々アダプトIPは協力会社様と連携のもと、解析をウェハー/パッケージどちらの状態においても対応いたします。  
パッケージ開封、ソケット開口等の作業も対応いたします。
 
設計検証時にFIB回路修正を施すと、マスク改版前に動作の有効性を評価することができます。  
経験豊富な技術者の加工内容精査により実現する高い成功率を維持しております。  
基本的にレイアウトデータへの許容制限は御座いません。  
加工立会い、納期等、柔軟に対応いたします。  
12inchウェハーまで対応いたします。


 LSI評価サービス


設計検証・試作評価における評価構想レシピの作成から、評価環境の準備、評価・解析、妥当性確認、 設計フィードバックに至るまでの一貫した評価ソリューションサービスをご提供いたします。


【主な評価実績】

信号処理プロセッサ、CMOSイメージセンサー、オーディオ、ビジュアル、ゲーム、モバイル製品向けロジック/アナログLSIデバイス

機能・特性評価、消費電力、S/Nノイズ評価、ダイナミックレンジ、画質評価、不良解析、評価自動化技術等、自社の実績・ノウハウに基づく、お客様のニーズに最適かつ効率的な評価ソリューションサービスをご提供いたします。